晶闸管怎么测量好坏-如何检测晶闸管的质量

晶闸管是一种存在于电子器件中的元件，它的主要作用是作为开关使用。因此很多时候我们需要对晶闸管进行测试，以确保这一关键元件的正常运行。而如何测量晶闸管好坏呢？以下将从多个角度为大家详细介绍。

一、静态测量

静态测量是指对晶闸管进行直接测量，包括开启电压测量、关断电流测量、正向电阻测量等。静态测量过程中，要先将晶闸管中的门极与阳极短接，然后使用万用表等测试工具进行测量。具体步骤如下：

1.开启电压测量

开启电压是指当晶体管中的门极与阳极之间施加一定电压时，晶体管开始导通的电压。在开启电压测量中，首先需要设置直流电源电压，然后将测试分配放在晶质管的门极和阳极上，记录下开启的电压。

2.关断电流测量

关断电流是指在晶体管开启之后，当晶体管在正常工作后被关闭，保证其完全关闭所需施加的电流。关断电流应该低于晶体管的额定电流。在关断电流测量中，需要在晶质管的阳极和正极之间设置测试钳，测量关闭电流。

3.正向电阻测量

正向电阻是在晶体管开启之后，对晶体管进行正向电流测试，可以测量输出区间的电阻值。在正向电阻测量中，需要将晶体管的阳极和正极之间进行测量，记录下正向电阻值。

二、动态测量

动态测量是指对晶闸管工作时的各项指标进行测量。通过动态测量，可以对晶闸管的开启和关闭情况以及温度和电流等关键参数进行测试。常见的动态测量包括：激发电压测量、保持电流测量、可控硅静态参数测量等。

1. 激发电压测量

激发电压是在晶体管中的门极和阳极之间施加一定电压，将晶体管的转动直接转变为开启状态的电压。在激发电压测量中，应该通过输入直流电压并在门极和阳极之间放置测试箭头来记录激发电压。

2. 保持电流测量

保持电流是指当晶体管被关闭时，其吸收的电流。在测量保持电流时，应该在晶质管的阳极和正极上进行测量，并在吸收电流的情况下记录电流大小。

3. 可控硅静态参数测量

可控硅静态参数主要包括电压工作范围、允许正向电流、开启电压、保持电流等。在测量过程中，需将测试箭头放置在门极和阳极之间，输入直流电源电压，记录下不同的可控硅静态参数值。

三、寿命测量

寿命测量是指对晶体管使用寿命进行测试。主要是通过对晶体管进行大量重复的电气讯号测试，来模拟实际操作中对晶体管的不同使用情况。常见的寿命测量有：高温寿命测试、低温寿命测试、脉冲寿命测试等。

1.高温寿命测试

高温寿命测试是指在特定温度条件下进行重复测试，用来评估晶体管在高温环境下的生命周期。该测试应该在高温条件下进行24小时，记录晶体管的开启和关闭情况，并记录寿命期间的所有细节。

2.低温寿命测试

低温寿命测试是指在低温条件下进行的重复测试。该测试应该在低温条件下进行24小时，并记录晶体管的开启和关闭情况，并记录寿命期间的所有细节。

3.脉冲寿命测试

脉冲寿命测试是指在特定的电气环境下进行测试，以评估晶体管在正式应用中的生命周期。该测试利用电子脉冲来模拟晶体管在实际应用中的使用情况，记录晶体管的开启和关闭情况，并记录寿命期间的所有细节。

四、总结

晶闸管是许多电子器件中的关键元件，如何测量它的好坏是非常重要的。本文主要从静态测量、动态测量和寿命测量三个角度为大家详细介绍了如何测量晶闸管的好坏。相信通过本文的介绍，大家都能够更加深入地了解晶闸管的测量方法和注意事项，在实际工作中更加有效地进行晶闸管的测量工作。